
G-33D4型高精密雙面光刻機(jī)
一、設(shè)備概述:
本設(shè)備用于中小規(guī)模集成電路、半導(dǎo)體元器件、聲表面波器件的研制和生產(chǎn),找平機(jī)構(gòu)(三點(diǎn)找平)極為突出,找平力極小,這帶來諸多顯著效果:一是在基片曝光操作上適用性廣泛,各類常規(guī)基片曝光時,本機(jī)均可穩(wěn)定、沉穩(wěn)應(yīng)對,保障曝光工作順利。其次,本機(jī)應(yīng)對特殊基片時表現(xiàn)顯著,如質(zhì)地易碎的砷化鉀、磷化銦基片,操作時不會被損壞就可完成曝光;對非圓形基片、小型基片這種特殊的、對精度要求高的基片,本機(jī)也能完成曝光,滿足曝光需求
曝光頭及部件圖


CCD顯微系統(tǒng)|X、Y、Q對準(zhǔn)工作臺
二、主要性能指標(biāo)
1、曝光類型:雙面對準(zhǔn)單面曝光;
2、曝光面積:≥110×110mm;
3、曝光強(qiáng)度:≤30mw/cm2,(測量儀器:光強(qiáng)計(jì);測量方法:紫外線照度計(jì)測量);
4、曝光照度均勻性:≥97%;紫外光束角:≤3?;(測量儀器:光強(qiáng)計(jì);測量方法:逐點(diǎn)檢測法);
5、紫外光源:LED,紫外光中心波長:365nm-460nm,出廠標(biāo)配365nm,可根據(jù)用戶要求定制,光源質(zhì)保期:1年;
6、曝光模式:可以正反對準(zhǔn),正面套刻曝光;
7、曝光方式:密著曝光,可實(shí)現(xiàn)硬接觸、軟接觸和微分離曝光、底吹曝光;
8、曝光分辨率:≤1μm(所需條件見后面附件1);
9、對準(zhǔn)范圍:X、Y±3mm、Q±3°,Q轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)精度≤0.05°,對準(zhǔn)精度:正面≤1μm;反面≤2μm;
10、載物臺x,y平面移動精度≤1μm;
11、對準(zhǔn)方式:手動;
12、接觸-分離漂移:≤1μm;分離量;0~50μm可調(diào);
13、具有三點(diǎn)自動找平功能,找平精度≤3μm;
14、顯微系統(tǒng):
1) 正面對準(zhǔn)采用雙視場CCD立式顯微鏡,總放大倍數(shù)觀察系統(tǒng)放大倍數(shù)為: 1.6×57=91 倍(小倍數(shù)),10×57=570 倍(大倍數(shù)),連續(xù)調(diào)節(jié),雙物鏡可調(diào)距離40mm~110mm;
2) 反面對準(zhǔn)采用雙視場CCD臥式顯微鏡??偡糯蟊稊?shù)為57-400倍連續(xù)變焦,顯微鏡調(diào)整范圍: X,Y,Z,通過千分尺實(shí)現(xiàn)X,Y,Z移動;
3) 正反面CCD像素為200萬倍;
15、配置掩模版架: 5″×5″(標(biāo)配,可根據(jù)用戶要求定制);
16、配置基片載物臺:φ4″(標(biāo)配,可根據(jù)用戶要求定制);
17、配有無油靜音真空泵;
18、尺寸和重量:
尺寸:機(jī)體1000 mm(長)×750 mm(寬)×1700mm(高);
重量:≤200Kg;
19、G-33D4 型光刻機(jī)的組成:
由主機(jī)(含機(jī)體和工作臺),對準(zhǔn)用單筒顯微鏡,LED紫外曝光頭組成;
20、附件如下:
a. 主機(jī)附件:(出廠時安裝到機(jī)器上)
1) 5"□型掩版夾盤。
用于Φ4"基片的真空夾持承片臺。
b. 顯微鏡組成:
(1) 單筒顯微鏡二套;
(2) 兩套CCD;
(3) 視頻連接線;
(4) 計(jì)算機(jī)和19"液晶監(jiān)視器。

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