G-31D4型高精密雙面光刻機(jī)
一、設(shè)備概述
本設(shè)備廣泛用于各大、中、小型企業(yè)、大專院校、科研單位,它主要用于中小規(guī)模集成電路、半導(dǎo)體元器件、光電子器件、聲表面波器件、薄膜電路、電力電子器件的研制和生產(chǎn)。
二、主要功能特點(diǎn)
1.適用范圍廣
適用于φ100mm以下、厚度5mm以下的各種基片(包括非圓形基片)的對準(zhǔn)曝光,雙面可同時曝光,亦可用于單面曝光。
2.結(jié)構(gòu)
Z軸采用滾珠直進(jìn)式導(dǎo)軌和可實現(xiàn)硬接觸、軟接觸、微力接觸的真空密著機(jī)構(gòu),真空吸版,防粘片機(jī)構(gòu)。
3.操作簡便
X、Y移動、Q轉(zhuǎn)、Z軸升降采用手動方式;吸版、反吹采用按鈕方式,操作、調(diào)試、維護(hù)、修理都非常簡便。
4.可靠性高
采用進(jìn)口(日本產(chǎn))電磁閥、按鈕、定時器;采用獨(dú)特的氣動系統(tǒng)、真空管路系統(tǒng)和精密的機(jī)械零件,使本機(jī)運(yùn)行具有非常高的可靠性。
三、主要技術(shù)指標(biāo)
1、曝光類型:接觸式、版版對準(zhǔn)雙面一次曝光;
2、曝光面積:Ф102mm;
3、曝光照度均勻性:≥97%(測量儀器:光強(qiáng)計;測量方法:逐點(diǎn)檢測法);
4、曝光強(qiáng)度:≤30mw/cm2(測量儀器:光強(qiáng)計;測量方法:紫外線照度計測量);
5、紫外光束角:≤3?;
6、紫外光中心波長:365nm;
7、光源質(zhì)保期:1年;
8、工作面溫度:≤30℃;
9、采用電子快門;
10、曝光分辨率:1μm(曝光深度為線寬的10倍左右);
11、曝光模式:雙面同時曝光;
12、對準(zhǔn)范圍:X:±5mm Y:±5mm;
13、板板對準(zhǔn)精度:2μm;
14、旋轉(zhuǎn)范圍:Q向旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)≤±5°;
15、顯微系統(tǒng):雙視場CCD系統(tǒng),物鏡1.6X~10X,計算機(jī)圖像處理系統(tǒng),19″液晶監(jiān)視器;總放大倍數(shù)91~570倍;
16、掩模版尺寸:能真空吸附5"方形掩板,對版的厚度無特殊要求(1~3mm皆可);
17、基片尺寸:適用于4"基片,基片厚度0.1-2mm都可以;
18、訂貨時無特殊要求,標(biāo)配5"×5版架;可以定制5"×5以下版架;

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