G-31B6型高精密雙面光刻機(jī)
一、設(shè)備概述
本設(shè)備廣泛用于各大、中、小型企業(yè)、各大院校、科研單位,它主要用于中小規(guī)模集成電路、半導(dǎo)體元器件、光電子器件、聲表面波器件、薄膜電路、電力電子器件的研制和生產(chǎn)。

CCD顯微系統(tǒng)|X、Y、Q對(duì)準(zhǔn)工作臺(tái)
二、主要性能指標(biāo)
1、工作臺(tái)行程(X向、Y向/Z向/θ向):±5mm/10mm/±5°;
2、適用基片尺寸: ≤6英寸;
3、掩模版尺寸:≤ 7″(175×175 mm);
4、對(duì)準(zhǔn)精度(正面對(duì)準(zhǔn)/背面對(duì)準(zhǔn)):±2um/±3um;
5、放大倍率:51×~570×(ccd連續(xù));
6、曝光光源:UV365,500W高壓汞燈;
7、曝光面積:φ160mm;
8、曝光分辨率:2 um(膠厚≤1 um,正膠、真空接觸);
9、曝光強(qiáng)度:≥ 5mW/cm2;
10、曝光不均勻性:≤5%;
11、曝光時(shí)間:0~999.9s;

當(dāng)前位置:
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